簡要描述:LDJD系列介電常數(shù)測試儀是利用高頻Q表法在較高的頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值、電感的電感量和分布電容值、電工絕緣材料的高頻介質損耗、高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻以及傳輸線的特性阻抗等。
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品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 建材,電子,航天,電氣,綜合 |
品牌 | 航天偉創(chuàng) |
LDJD系列介電常數(shù)測試儀產(chǎn)品:LDJD系列是利用高頻Q表法在較高的頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值、電感的電感量和分布電容值、電工絕緣材料的高頻介質損耗、高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻以及傳輸線的特性阻抗等。
設備配置:
型號 | 高頻Q表 | 介質損耗測試夾具 | 電桿組 | 液體杯 |
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LDJD-A | QBG-3E改進型 (10KHz-70MHz) | S916 | LKI-1 | 選配 |
LDJD-B | QBG-3F改進型 (10KHz-110MHz) | S916 | LKI-1 | 選配 |
LDJD-C | AS2853A改進型 (100KHz-160MHz) | S916 | LKI-1 | 選配 |
LDJD介電常數(shù)測試儀的適用范圍:
GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法》(等效IEC 60250:1969);
GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法》;
ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》;
適用于測量液體、易熔材料以及固體材料。測試結果與某些物理條件有關,例如頻率、溫度、濕度,在特殊情況下也與電場強度有關;
什么是介電常數(shù)?
介電常數(shù)εr電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時,其電容Cx與同樣電極構形的真空電容C0之比:
(1)式中:
εr——相對電容率;
Cx——充有絕緣材料時電容器的電極電容;
C0——真空中電容器的電極電容。
在標準大氣壓下,不含二氧化碳的干燥空氣的相對電容率εr等于1.00053。因此,用這種電極構形在空氣中的電容Ca來代替C0測量相對電容率εr時,也有足夠的精確度。
在一個測量系統(tǒng)中,絕緣材料的電容率是在該系統(tǒng)中絕緣材料的相對電容率εr與真空電氣常數(shù)ε0的乘積。
在SI制中,絕對電容率用法/米(F/m )表示。而且,在SI單位中,電氣常數(shù)ε0為:
(2)用皮法和厘米來計算電容,真空電氣常數(shù)為:
(3)什么是介質損耗。
介質損耗角 δ由絕緣材料作為介質的電容器上所施加的電壓與由此而產(chǎn)生的電流之間的相位差的余角。
介質損耗因數(shù) tanδ:損耗角δ的正切。
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